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技术文章/ Technical Articles

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  • 2024

    9-12

    可以检测糙米/精米白度的外观分析设备C-600本仪器是根据本公司有的标准测量大米白度的仪器。采用反射率测量方式,光源使用2个蓝色LED。从左右45度方向照射来自蓝色LED的光,用光电二极管检测其反射光的光量。试料白色反射率越大,检测出的光量越多,测定值越高。米的白度与糖精度有相关关系,因此可以使用本仪器间接测量米的糖精度。本器与以往的机器(C-300)相比,是轻量且紧凑的尺寸。另外,由于作为光源使用了蓝色LED,光源寿命延长,耗电量及机器的发热量也降低了。而且,由于缩短了启动...

  • 2024

    9-9

    提供大米口感的机器日本KETT大米食味计成分分析仪AN-920糙米、精米水分及成分的无损测量显示水分、蛋白质、直链淀粉、品质评价值通过成分分析仪AN-920可以测量出糙米、精米含有的水分,蛋白质、直链淀粉(参考值)等的成分,并显示出米的「品质评价值」。试样不用做粉碎等的预先处理。本公司产品中搭载了数模显示屏,结构简单易操作。本成分分析仪能具体地出示米的成分品质,对科学管理大米味道的生产商、米饭工厂、米店等来说,是适合的品质控制用测量仪器。测量方法透射式近红外光谱测量目标标准:...

  • 2024

    9-9

    大米外观品质检测设备谷粒判定器——RN-700大米外观品质检测仪又称大米外观品质检测仪系统、米质判定仪、米检测仪、大米外观品质检测仪、稻米品质分析仪。粮食的质量决定了粮食的价格与用途,而目前,粮食的定等、定价主要是根据粮食物理指标的检验来确定。只需将糙米铺在托盘上,然后插入即可确定外观在约40秒内高速判断1000粒精确处理3幅影像和新开发的图像引擎除了谷物质量,还要测量谷物数量,长度,宽度和每个谷物的面积测量方式通过图像处理判断影像感应器CMOS图像传感器(500万像素)光源...

  • 2024

    9-7

    可以可视化”灰尘、异物和划痕“的目视检查灯Triton“Triton”尽管尺寸方便,但具有与HID灯相同的性能,并使用强大的直光“可视化”灰尘、异物和划痕!“Triton”是一款中型清洁检查灯,可以检查设备、工作环境等的清洁度,并轻松可视化大范围的灰尘附着状态。虽然它有内置电池,但它重量轻、结构紧凑,而且它也是一种高度可见的灯,可提供与HID灯相同的光量。涂装、印刷、精密组装、薄膜制造等现场经常出现的外观缺陷的原因是肉眼无法看到的约10μm以上的“粗颗粒”。因此,通过使用高度...

  • 2024

    9-7

    日本NCC目视检查灯,能够看到灰尘颗粒的清洁检查灯Quantum“Quantum”是一款袖珍型小型清洁检查灯,可让您轻松观察工作过程中的灰尘(粗颗粒)和产品上的划痕。尽管它有内置电池,但它很轻,因此您可以轻松随身携带并在需要时使用。在喷漆、印刷、精密组装、薄膜制造等现场,许多缺陷是由灰尘等异物引起的,但造成产品缺陷的10μm以上的颗粒物在正常情况下是肉眼无法看到的。我不能。因此,通过使用发出直线传播的强光的“量子”并照射产品和零件的表面,可以使以前看不见的异物可视化。用小但高...

  • 2024

    9-7

    日本FUNATECH能够检测半导体零件是否有划痕、污垢、异物的目视检查灯采用LED光源,非常适合目视检查产品表面是否有划痕、污垢、异物等。更轻松地对半导体零件、显示器、树脂产品和精密零件进行目视检查。通过与二向色滤光片相结合,变得更容易观察,并且对眼睛温和,减轻了工人的压力。很容易被误认为是高亮度手电筒,但干净的检查灯则不同,它不仅用于调查涂装过程中的缺陷原因,还用于广泛的应用。例如制造和组装汽车零件、房屋建筑材料的检查、电子零件和制造设备的外观检查以及出货检查.即使在精密零...

  • 2024

    9-7

    目视表面检查灯FY-18N/FY-18L的重要性很容易被误认为是高亮度手电筒,但干净的检查灯则不同,它不仅用于调查涂装过程中的缺陷原因,还用于广泛的应用。例如制造和组装汽车零件、房屋建筑材料的检查、电子零件和制造设备的外观检查以及出货检查.即使在精密零件行业,也可作为无尘室灯,可用于无尘室您看待它的方式取决于您的技能水平,并且因人而异。首先,我们需要创造一个容易看到的环境。通过更好地“可视化”,我们可以减少人类工作的变化,减少目视检查工作时间,并有效防止缺陷产品的流出。采用L...

  • 2024

    9-6

    YP-150I半导体晶圆表面缺陷检查灯原理应用表面瑕疵灯用于人工检测工件表面灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点。检测原理是:利用适合的LED灯源,通过光学透镜和滤光片折射出特殊的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的瑕疵。YP-150I表面检查灯YP-250I基本信息高强度卤素光源装置超精密平面检测的理想选择!通过惊人的照明,可以检测小于0.2μm的缺陷。“YP-150I”是一种用于显微观察的照明装置用于检测最终成品表面上的各种缺陷,如异物、划痕、抛...

  • 2024

    9-6

    电容式露点仪TK-100主要运用于半导体芯片哪些方面主要用途手套箱内的露点控制干燥机露点检查热处理炉内气氛控制洁净室/干燥室露点管理气体纯度控制天然气水分管理半导体制造设备有机EL制造测量气体中的水蒸气露点温度的仪器叫做露点仪。露点仪因所使用的冷却方法和检测控制方法不同,可以分为多种类型。这里只介绍热电制冷自动检测露层的平衡式精密露点仪在半导体芯片生产中的应用。露点仪在半导体芯片的生产工艺中起重要监测作用。半导体芯片的生产是在净化间内进行的。净化间规范往往包括相对湿度(RH)...

  • 2024

    9-6

    日本TK-100露点仪分析仪洁净室/干燥室露点管理介绍主要用途手套箱内的露点控制干燥机露点检查热处理炉内气氛控制洁净室/干燥室露点管理气体纯度控制天然气水分管理半导体制造设备有机EL制造露点通常在压缩空气系统的供应侧进行测量。露点仪能使测量值可直接显示在显示屏或干燥机的控制面板上。这些值可指示干燥机的性能和质量,还可控制干燥塔再生以降低能耗。受潮在很多方面增加了操作和维护任务量以及成本。无论潮湿源是什么,提早发现问题意味着可以更快地采取纠正措施。这能够帮助避免出现可能导致成本...

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