PRODUCT CLASSIFICATION
产品分类技术文章/ Technical Articles
日本takasago-ss高砂制作所ZX-S系列直流电源装置机器1.无需电脑即可独立测序2.所有型号均标配输出ON时的浪涌电流抑制功能。3.全数字控制,4位设定,4位测量4.所有型号均标配串行通讯或LAN。5.并联运行功能,增强了可操作性和特性6.也可作为模拟电池使用,具有可变内阻功能(型号带A)7.外部模拟量控制、模拟量监控(型号带A)8.环保无铅设计ZX-S系列的顺序操作功能是一种自动控制功能,通过设置记忆功能设置和OUTPUTOFF的控制时间,顺序(定期、连续)控制ZX...
日本MCRL村上色彩技术研究所精密光泽度计GM-26PROGM-26PRO/Touch满足ISO、ASTM、JIS等国内外标准高标准的“20°/60°型、75°型、45°型光泽度计”。该设备设计紧凑,集成了高精度、高可靠性的检测器和指示器,可高度消除光源的偏振。而且,传统产品(我们的GM-26D)。操作性也得到了改善,只需将样品放置在仪器上即可更有效地进行测量。新开发的GM-26PRO/TOUCH增加了一键式校准、平均测量和测量值的外部输出功能,使用起来更加方便。*PC数据管...
DUV-LED光源L16665-110、C16659系列点照射型DeepUV-LED光源(DeepUV:280nm)。虽然它有4个独立的头,但它的设计紧凑,适合手掌大小。预计可与365nm紫外线组合使用,固化UV粘合剂/UV油墨(除粘),以及使用深紫外线进行灭菌和各种分析,具有很强的杀菌效果。小巧轻便4头独立驱动高稳定性低功耗UV粘合剂/UV油墨的固化(除粘(*1))紫外线杀菌各种分析我司一般经营项目是:从事机电设备、电子能源相关设备、食品加工机械设备、粉体制造设备、电子计测...
日本YAMADA山田光学半导体检查灯的产品介绍:这是一种光源装置,通过使用用于检查Si晶圆和玻璃表面上的划痕的照明光源提供400,000Lux(30Φ)或更高的照明,可以观察到细微的划痕。日本YAMADA山田半导体检查灯产品特点:1、可照亮样品表面400,000Lx以上。2、光源采用卤素灯,色温高,照度不均小,光线极其稳定锐利。3、采用冷镜,热量的影响极大地降低到传统铝镜的1/3。4、两级切换机构,一键实现高照度观察和低照度观察。YP-150I照度范围:30mmφYP...
日本富士平FHK蛋壳强度检测仪MODEL-III与常规蛋壳强度设置不同,测量后无需清理,可以无损测量(仅裂纹),并且电控超声波马达可以大大减少一次测量所需的时间。技术指标1.测量范围:大5.0kgf(50.0N10.0lbf)2.显示分辨率:0.001kgf3.采样周期:1000次/秒4.峰值测量:保留测量值,并立即停止垂直运动(PAT.PEN)。5.输出:RS-232C/USB6.电源:AC100V7.重量:6.5kg特征1.与液压型不同,它不需要任何准备工作,并且搬运极为...
用于视觉检查的高强度照明系统SENASuperbeamSENASuperbeam是一种用于检查晶圆、透镜和玻璃基板表面的照明系统,融合了30多年的专业知识而开发。通过采用透镜和专用灯管,使照射区域内的照度保持均匀,提供强烈而稳定的光线。超高亮度LED照明装置SELONEN★采用长寿命(20,000小时)LED★内置光圈调节照射直径★采用轻质铝制成,散热性高★照射距离200mm照度超过800,000lx以上广角LED照明装置SELONE★采用长寿命(20,000小时)LED★内...