日本NITTOSEIKO高阻电阻率计测量各种材料 MCP-HT800 Hiresta-UX 是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。 测量各种高阻材料的表面电阻率和体积电阻率对于生产技术、质量控制和研发非常有用。 轻松准确地测量材料的表面电阻率和体积电阻率，用于抗静电材料研发、生产线质量控制或材料。

日本KYORITSU接地电阻计快速响应高速测量 KYORITSU/日本共立 KEW 4105DLBT-H 搭载蓝牙®，可进行数据传输业界最快的响应速度，抗2秒的噪音！即使在辅助接地电阻较大环境中，也可以准确地测量到25V接地电压，且能够一眼就判别接地电阻值的好坏的比较器功能AC/DC通过自动判别可测定至300V电压测定实现10，000次连续测定，也对应A～D种（3极法）的测定及简易测定（2极法）

日本nissin-kikai近红外光谱测量水分氯离子 IRS-N0917Q 二维傅立叶变换光谱成像 通过实现可持续的社会 以贡献为目标 比分散型等超一光谱力仪更 高感度·可获取高分辨率的光谱数据。 比一般的傅立叶变换红外分光度计（FTIR） 可同时获取更广泛的二维光谱数据。 不仅可以在实验室中使用，也可以带到现场使用。

日本nissin-kikai中红外光谱分析仪测量系统 IRS-T0812Q 二维傅立叶变换光谱成像 通过实现可持续的社会 以贡献为目标 比分散型等超一光谱力仪更 高感度·可获取高分辨率的光谱数据。 比一般的傅立叶变换红外分光度计（FTIR） 可同时获取更广泛的二维光谱数据。 不仅可以在实验室中使用，也可以带到现场使用。

日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2介绍： 专用于光刻样品的开尔文探针 轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离 可在大气中测量半导体样品的费米能级 由于测量时间短，因此非常适合测量随时间变化的情况，例如成膜或表面处理后金属表面的变化

日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3 能够使用平板开放式计数器对高达 4000 cps 的光电子进行计数 能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品 任何位置都可以通过点测量进行测量。 使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。 通过使用Xe（氙）灯（*），可以高灵敏度地测量不易产生电子的

日本Riken Keiki高输出光学系统高精度测量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 配备超过2μW的高光输出光学系统 配备可测量2eV以上的低能量照射光学系统 高温测量可达100℃ 膜厚测量 以 0.01eV 步长进行精确测量 配备高要求的多点测量和重复测量功能。 读取AC-2、3、5数据后即可进行分析

日本keycom磁性材料磁导率测量系统范围宽广 PER01 1. 无缝和广泛的带宽覆盖 KEYCOM可以提供测量系统，带宽无缝覆盖从100kHz到30GHz。 2. 可测量的价值 此系统可在宽频带内测量磁性材料的复合磁导率μr'-jμr“（其中，我们可提供20～30GHz的测量服务），半宽度ΔH，铁磁共振松弛系数α（100MHz～10GHz）。