日本ceramic forum半导体分析装置测量结晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度测量结晶缺陷导致的电子状态的良好方法。 即便是内在微小的杂质或格子缺陷也会很大程度上影响半导体材料性能，所以此类测量非常重要。

日本nogami电极拆卸手冲精确测量纽扣电池用 用于冲压原型纽扣电池的正负极材料， 精确的面积重量测量以及用于质量控制的样品处理。 20年来支持国内外电池开发的标准工具。

日本bunkoukeiki传感器光谱灵敏度​测量 VC-250 该装置测量光电二极管和CCD/CMOS图像传感器等光电转换元件的光谱特性（光谱灵敏度和光谱响应）。 我们实时监控每个波长的光量，并使用我们的控制机制，以恒定的能量（W/cm 2）和每个波长的光子数（光子/cm 2 ）照射单色光。

日本oji-keisoku便携式椭圆偏振仪测量装置 PAM-PTB100 本装置是测量通过平板等偏振板射出的光的偏振状态的装置。一次测量6波长的椭圆率（a/b）和椭圆方位角（Ψ）。测量部和控制器分离，可在任意状态下进行测量。

日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100 本装置以透明试样为对象，通过平行尼可光谱法测定数千至2万nm左右的相位差及取向角。通过输入薄膜厚度，自动计算双折射N。

日本oji-keisoku光轴测量装置配向角位相差 PAM-PR300 对光学薄膜偏振轴方位、取向角及相位差值进行测定 无需个人差异，可简便且短时间内测量

日本oji-keisoku相位差测量平行尼科耳旋转 KOBRA-WFD0系列 1.从超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化，实现长期稳定的测量3.日常维护，减少消耗部件标准采用LED光源，无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部

日本oji-keisoku相位差/椭球偏振测量装置 KOBRA-HB系列 1.从超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的广泛测量范围2.高精度的测量特别是取向角的高精度化，实现长期稳定的测量3.日常维护，减少消耗部件标准采用LED光源，无需更换光源灯4.与KOBRA-W系列共用样品支架、可选夹具可共用5.考虑操作性与KOBRA-W系列相比较大的开口部