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日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用

日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80

非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

  • 产品型号:EC-80
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-10-13
  • 访  问  量:301
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详细介绍

日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 特点介绍


非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置,只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换

使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件

测量目标

半导体能电池材料相关(硅、多晶硅、SiC等)

新材料/功能材料相关(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)

导电薄膜相关(金属、ITO等)

化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)


日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 规格参数


非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置,只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换

使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件

测量目标

半导体能电池材料相关(硅、多晶硅、SiC等)

新材料/功能材料相关(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)

导电薄膜相关(金属、ITO等)

化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置,只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换



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