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日本napson手动测量电阻测试仪半导体制造用 RT-70V系列四探针法电阻率和方块电阻手动测量装置
产品型号：RT-70V系列厂商性质：经销商更新时间：2024-10-13访 问 量：164
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日本napson手动测量电阻测试仪半导体制造用 RT-70V系列 特点介绍
四探针法电阻率和方块电阻手动测量装置
测量测试仪（RT-70V）和测量台的组合
<测量测试仪：RT-70V>
通过 JOG 旋钮、厚度、温度和 PN 输入轻松操作（RT-70V 测试仪）
自检功能、自动测量范围切换、4 种测量模式
包括厚度和温度校正功能 ( (对于硅）
测量目标
半导体能电池材料相关（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜相关（金属、ITO等）
扩散样品
日本napson手动测量电阻测试仪半导体制造用 RT-70V系列 规格参数
测量范围
[电阻率（电阻率）] 1μ ~ 300kΩ･cm
[表面电阻] 5m ~ 10MΩ/sq
[电阻率（电阻率）] 1μ~300kΩ･cm
[表面电阻] 5m~10MΩ/sq
产品尺寸
RT-70V：W250×D330×H130mm
约7kg
四探针法电阻率和方块电阻手动测量装置
测量测试仪（RT-70V）和测量台的组合
<测量测试仪：RT-70V>
通过 JOG 旋钮、厚度、温度和 PN 输入轻松操作（RT-70V 测试仪）
自检功能、自动测量范围切换、4 种测量模式
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