日本Japansensor辐射率测定器量化材料表面 TSS-5X-3使用发射率测量仪TSS-5X-3,您可以轻松测量样品在室温下的发射率。发射率值以数字方式显示,方便查看,操作简单。
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日本Japansensor辐射率测定器量化材料表面 TSS-5X-3 特点介绍
使用发射率测量仪TSS-5X-3,您可以轻松测量样品在室温下的发射率。
发射率值以数字方式显示,方便查看,操作简单。
量化材料表面处理的细微差别
TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。
样品的发射率以数字方式显示,方便查看,操作方便。
它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域,包括空间、半导体和核电。
TSS-5X-2 已更新为 TSS-5X-3。
日本Japansensor辐射率测定器量化材料表面 TSS-5X-3 规格参数
量化材料表面处理的细微差别
通过了解发射率,您可以提高加热设备的辐射效率,设计强调散热和隔热的材料,还可以用于节省能源。
TSS-5X-3使用两种类型的参考件(发射率0.06和0.97),其参考发射率是预先已知的,并且可以在室温下轻松测量,无需加热样品。
它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域,包括空间、半导体和核电。
模型TSS-5X-3
测量方法使用红外检测的反射能量测量方法
测量波长2~22μm
测量范围发射率:0.00-1.00
准确率评估满量程的 ±1%
测量面积Φ15mm
测量距离12mm(检测头柱固定)
样品温度10-40℃(室温)
测量值显示LED数字显示(显示至小数点后第二位)
输出0-0.1V、0-1V、满量程
工作温度/湿度范围10~45℃/35~85℃(无凝结)