日本santec高性能光学功率计检测器探测器 Santec/日本 OPM-200系列OM-200高性能光学功率表是 最新一代桑特克电力表。标准2毫米 Ingaas探测器可以测量功率降至-80dbm。 宽波长范围在840到1700纳米之间。高精度 和 50秒平均值 时间使OP-200成为可靠的动力 几乎所有的应用程序。
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日本santec高性能光学功率计检测器探测器 Santec/日本 OPM-200系列 特点介绍
OM-200高性能光学功率表是 最新一代桑特克电力表。标准2毫米 Ingaas探测器可以测量功率降至-80dbm。
宽波长范围在840到1700纳米之间。高精度 和 50秒平均值 时间使OP-200成为可靠的动力 几乎所有的应用程序。
该探测器是免费空间和兼容我们的SD 滑动检测器适配器。以及模拟输出 理想的自动光学校准。
另外,从1 到4个探测器和远程头选择的最终,灵活的 电源表解决方案。
高性能光学功率计
免费空间2毫米英加阿斯探测器
FC, SC, LC, MPO and 更多的检测器适配器可用
840-1700纳米波长范围
+30 to -80 dBm power range
50秒平均时间
触摸屏显示
USB或以太网
日本santec高性能光学功率计检测器探测器 Santec/日本 OPM-200系列 规格参数
光学校准
*收发器测试
*激光和放大器特性
*瞬态测试
实验室和研究与发展
灵活性
选择我们的远程头选项,给你自己最大的灵活性。有一个螺纹 安装孔,帮助它连接到您的工作台。OM-200可配置为 最多4个探测器。
自动化测量
在一个自动化的过程中集成功率表从来都不是一件容易的事情。OM-200是 可通过USB或以太网通过简单的SCIP命令进行编程。
自动化程度进一步提高,可互换的SD幻灯片检测器适配器。