日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估

日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估 VH-1100 特点介绍

可用于测量和评估安装在智能手机等中的自动对焦（AF）执行器VCM。

通过使用镜面目标，可以同时测量位移（Z）和倾斜（θX-θY）。

测量数据以模拟 (±5V) 形式输出，允许以 10kHz 采样。

倾斜 (θX-θY)：±60 分钟（圆周范围）

位移 (Z)：±1.5 毫米

工作距离：60±0.5 毫米

外部尺寸：W125 x D150 x H56 毫米

输出更新率：10,000 次/秒

日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估 VH-1100 规格参数

VH-1100

主要规格

测量范围

倾斜 (θX-θY)：±60 分钟（圆周范围）

位移 (Z)：±1.5 毫米

工作距离：60±0.5 毫米

外部尺寸：W125 x D150 x H56 毫米

输出更新率：10,000 次/秒

除了使用激光进行自准直仪角度测量之外，还可以同时测量位移（X、Y、Z）和旋转角度的测量仪器。

隆重推出可实时捕捉一切的创新产品。这些创新产品将您的测量概念提升到一个新的水平。

此外，我们还将介绍一种利用干涉的镜头波前像差测量装置。

可用于测量和评估安装在智能手机等中的自动对焦（AF）执行器VCM。

通过使用镜面目标，可以同时测量位移（Z）和倾斜（θX-θY）。

测量数据以模拟 (±5V) 形式输出，允许以 10kHz 采样。