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Napson日本进口无损涡流法电阻测试仪手持式 EC-80P只需简单接触笔型探针即可进行测量可在任意位置进行测量，不会损坏样品
产品型号：EC-80P厂商性质：经销商更新时间：2024-10-12访 问 量：210
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Napson日本进口无损涡流法电阻测试仪手持式 EC-80P 特点介绍
只需简单接触笔型探针即可进行测量
可在任意位置进行测量，不会损坏样品
易于操作的手持探针
通过切换测量模式，调整片材电阻和电阻率
可显示在
通过JOG拨盘轻松设定测量条件
电阻测量探头按范围排列
宽敞，支持广泛的范围
（电阻探针:最多2根+PN判定探针
同時接続可能）
探头2~第三条是可选的。
测量光斑直径（探针芯直径）:
14mmΦ
Napson日本进口无损涡流法电阻测试仪手持式 EC-80P 规格参数
芯片样品；
硅载体、化合物（GaN、GaP）、Epi、
扩散层、SiC等
各种薄膜样品；
半导体处理膜、金属膜、ITO膜等
其他
*原则上，如果在测量范围内，则为
也可以用样品进行测量。
[电阻率] 1m 至200Ω.cm
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[表面电阻] 10m 至3k2/sq
(*所有探头类型的总范围)
*有关每种探头类型的测量范围，请参见下文。
(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω.cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω.cm)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω).cm)
(4) S-高:1,000-3,0002/□(60-200Ω.m)
(5)太阳能晶圆:5-500Ω2/□(0.2-15Ω.cm)
产品尺寸
·机身:W255xD275xH95mm,4kg
·探头部分:20mmΦx80mm
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