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产品分类日本ERD分立半导体高速容量测量测试仪进口 CMS-200无汞!超高速容量测量测试仪!!MODEL CMS-200系列是一种高速、高精度测量分立半导体(FET、二极管等)电容特性的方法。
联系电话:13823182047
日本ERD分立半导体高速容量测量测试仪进口 CMS-200 特点介绍
无汞!超高速容量测量测试仪!!
MODEL CMS-200系列是一种高速、高精度测量分立半导体(FET、二极管等)电容特性的方法。
进行检查和判断。这是一种低成本的测试系统,除了各种校正功能和自动检查功能之外,还具有增强的自诊断功能。
为了满足各种需求,除了基本规格外,还可以使用软件扩展Windows软件和内置CPU的功能,硬件方面,我们设计和制造专用的头盒、夹具等,以适应各种需求。
我们提供一个与处理程序相匹配的系统。迄今为止,我们已向国内外主要半导体制造商出货了50多台该系列产品。
日本ERD分立半导体高速容量测量测试仪进口 CMS-200 规格参数
规格控制器
软件
测试装置控制
校准器
测试程序编辑
测试单元接口
是德科技 E4980A
测试程序
直流测试计划:200,
排序测试计划:200
分档输出
20Bin
主机链接软件
高速管理系统
控制单元/头箱
测试站
1 单位
电压
40V
测试项目
FET:CISS、CRSS、COSS、GISS(Rg)、GRSS、GOSS
DI:C
方面
控制单元:470(W)×150(H)×450(D)mm
头部单元:70(W)×120(H)×190(D)mm