日本NPC手持式非接触式面电阻测试仪高精度

日本NPC手持式非接触式面电阻测试仪高精度 sigma-5+ 特点介绍

探头接触样品即自动开始测量

可通过JOG旋钮快速设定测量条件

5种测量范围探头可根据样品电阻率进行更换    

可选配P/N型判定量测功能

应用：硅片样品， 化合物半导体， 外延层， 扩散层， 碳化硅， 薄膜材料， 金属膜， ITO,  IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

日本NPC手持式非接触式面电阻测试仪高精度 sigma-5+ 规格参数

它可以精确测量硅片等的电阻率，还有用于太阳能电池的硅的便携式探头。

这是一款高精度电阻率测量仪器，采用20多年电阻率测量相关的专业知识和技术设计和开发。

可以在半导体基板和导电薄膜基板的研发/检查过程或生产线中高精度地确定和评估薄层电阻值和体积电阻值。

・带有开关功能的智能面板，可进行详细设置

・紧凑的桌面尺寸设计

・从低电阻到高电阻的宽测量范围

・电流极性切换测量可抑制因整流而产生的误差

・每次测量开始时自动调零功能

・自动设定最佳电流的自动量程功能

・试样厚度修正功能

・测量值平均值显示和打印机平均值计算功能

・半导体温度校正功能

・各种温度修正系数输入功能

・带数据打印机接口

・具有数据连接接口

这是一款手动型测量仪器，采用四探针法，可轻松准确地测量太阳能电池用硅片、液晶基板、金属薄膜等的方块电阻或体积电阻。它支持从低电阻到高电阻的各种测量。

1) 用于硅锭制造→晶圆制造工序（成膜等各工序）的产品检查　

2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜时的产品检查

3) 用于各种导电材料制造过程中的产品检验

可以使用本公司另外配置的“4点探头"进行测量。