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日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2介绍：专用于光刻样品的开尔文探针轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离可在大气中测量半导体样品的费米能级由于测量时间短，因此非常适合测量随时间变化的情况，例如成膜或表面处理后金属表面的变化
产品型号：FAC-2厂商性质：经销商更新时间：2024-10-11访 问 量：199
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日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2特点介绍：
专用于光刻样品的开尔文探针
轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离
可在大气中测量半导体样品的费米能级
由于测量时间短，因此非常适合测量随时间变化的情况，例如成膜或表面处理后金属表面的变化
日本理研rikenkeiki测量装置有机电子材料用FAC-2规格参数：
有机电子材料的费米能级测量
金属和导电薄膜功函数的测量
有机EL和复制感光材料的电离势测量
硬盘和磁带摩擦学研究
半导体和引线框架表面氧化态的测量
精密电子材料中分子级薄膜污染检测
产品分类：开尔文探针
模型：FAC-2
测量原理：开尔文法
测量零件尺寸：Φ10mm
测量能量范围：3.4至6.2eV（使用功函数为5.0eV的参考样品进行校准时）
测量时间：10秒或更短（如果样品是金属）
重复性（标准差）：功函数0.02eV（样品：金板）
温湿度范围：温度范围15-35℃，湿度20-60%RH
电源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）
外形尺寸：约235（宽）×330毫米（高）×408（深）毫米
重量：约12公斤
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