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日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100本装置以透明试样为对象，通过平行尼可光谱法测定数千至2万nm左右的相位差及取向角。通过输入薄膜厚度，自动计算双折射N。
产品型号：PAM-UHR100厂商性质：经销商更新时间：2024-10-10访 问 量：246
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日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100 特点介绍
本装置以透明试样为对象，通过平行尼可光谱法测定数千至2万nm左右的相位差及取向角。通过输入薄膜厚度，自动计算双折射N。
■特点
测定方式
平行尼科耳分光
样品尺寸
□40mm、厚度3mm以下
测定项目
相位差、取向角、双折射
日本oji-keisoku超高相位差双折射测量装置 PAM-UHR100 规格参数
规格内容测定对象透明拉伸膜（PC，PET等）测定项目相位差、取向角、双折射（相位差范围约800～20000nm）试样尺寸□40mm厚度3mm以下系统结构测定装置主体、笔记本电脑（OS:Windows7/Vista/XP）温湿度条件10～35°C、20～80%RH（但不结露）电源AC100V±10%、50/60Hz
偏光軸方位、配向角、位相差
测定対象
光学薄膜、偏振板
测定原理
旋转检光子法、平行二卷旋转法、正交二卷旋转方法
測定時間
约4秒（偏振轴测量）
测定波長
590nm（可选=450nm、630nm等）
样品尺寸
30mm~250mm，t=20mm以下
系统配置
测定装置主体、光源装置、笔记本电脑（Windows10）
主体尺寸
W380XH390 XD610 mm
本体重量
27kg
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