日本technomu非接触式截面/粗糙度测量装置

日本technomu非接触式截面/粗糙度测量装置 TFS2100系列

该系统使用光斑直径为2μm的位移传感器以非接触方式测量物体的表面粗糙度和截面形状。

由于符合JIS'94和JIS'01，因此可以比较和替换现有数据。

产品型号：TFS2100系列
厂商性质：经销商
更新时间：2024-10-10
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详细介绍

日本technomu非接触式截面/粗糙度测量装置 TFS2100系列特点介绍

该系统使用光斑直径为2μm的位移传感器以非接触方式测量物体的表面粗糙度和截面形状。

由于符合JIS'94和JIS'01，因此可以比较和替换现有数据。

・以小尺寸、低价格实现高精度测量

・可以使用市售的激光位移传感器。

・快速数据采集

・由于是非接触式，因此无需担心损坏测试对象。

・能够测量透明或镜面物体

・被测物体的影响很小

・多种测量模式可供选择

・粗糙度符合JIS'94和JIS'01

・也可以合并您自己的粗糙度参数。

・可以根据所使用的物体的形状构建系统。

日本technomu非接触式截面/粗糙度测量装置 TFS2100系列规格参数

项目目TFS2100AW TFS2100型式别透明体、镜面体的测量可测量半导体激光源670nm可见光CLASSI170μWSS21-80XY80mm激光传感器无（客户自备）Z轴方向测量范围±0.3mm测量方式共焦式工作距离分辨率0.01μm光斑直径φ2μm直线性±0.5%F.S重复精度AC100V±10%50/60Hz60W以下TFS2100系列通用机一览表8μm以内（最大移动时）±1μm以内10μm以内（最大移动时）100mm0.1μm/STEP

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