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日本fujiwork薄膜测试仪连续测厚机高精度 FT-A200H/FT-A200HR 特点介绍
具有高精度测量头和放大器单元的机器。
只需放置从生产线上切下的薄膜,即可轻松连续地测量厚度。
FT-A200 测量范围/10μm 至 200μm
FT-A200R 测量范围/3μm 至 100μm
测量分辨率/0.01μm
日本fujiwork薄膜测试仪连续测厚机高精度 FT-A200H/FT-A200HR 规格参数
●重复精度/0.05微米*1●测定分辨率/0.01微米●直线性/+/-0.2%*测量头精度●测量范围/FT-A200H:10μm~200μm※2 FT-A200HR:3μm~100μm※2●可变更测量压力/0.3N(标准)测量压力●主体、放大器单元、测量头的构成
●输出/模拟和RS232C●寸法/260(H)x 300(W)x 309(D)mm*本体部●重量/约10kg*本体部●电源/AC100V●可选/·专用软件·数据记录器·更换用测量器·个人电脑·图表打印机
●重复精度/0.2微米*1●测量分辨率/0.1微米●测量精度/1μm以下※测量头精度●测量范围/10微米~500微米*2●测量压力/0.45~0.25N●紧凑型设计(内置显示器)