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产品分类日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S容抗氧化帘电阻测量即使测量单元中心的接触电阻(接触压力)为100Ω,也可以进行高精度测量。测量部分必需的内置接触检查电路
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日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S 特点介绍
容抗氧化帘电阻测量
即使测量单元中心的接触电阻(接触压力)为100Ω,也可以进行高精度测量。
测量部分必需的内置接触检查电路
这使得可以测量容易形成氧化膜的电极部分的电阻值。测量值以 4 1/2 位显示,测量范围为 100Ω 至 19.999MΩ。
除了使用内置数字比较器确定 HI、GO 和 LO 外,如果在 4 端子测量过程中任何端子由于某种原因接触不良,也会显示接触错误。
如此丰富的内置功能,该设备真正称得上是可靠的测量仪器。
日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S 特点介绍
kΩ0.0001kΩ~1.9999kΩ5毫安
20kΩ0.001kΩ~19.999kΩ500μA
200kΩ0.01kΩ~199.99kΩ50μA
2兆欧0.0001MΩ~1.9999MΩ5μA
20兆欧0.001MΩ~19.999MΩ0.5μA
测量时间
工频外部启动自由奔跑
60赫兹68.7毫秒15次/秒
50赫兹82毫秒12.5次/秒
*上述测量时间包括接触检查功能操作(约1毫秒)。
控制
信号输入 测量开始信号 集电极开路输出(光隔离)40Vmax 200mA。
输出 测量结束信号
判断输出(HI、GO、LO)
接触错误输出
BCD数据
输出系统 测量值 BCD 并行输出
打印指令输出
测量方法
4端子测量法
展示
4 1/2 位 0000~19999
接触检查判断值
接触电阻值为100Ω以上时,输出接触错误
输入输出
范围输出扇出 2
使用环境
0°C 至 50°C(温度)85%(湿度)以下
尺寸
250(宽)x 85(高)x 244(深)毫米(不包括橡胶脚等突出部分)