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日本syscom振动/位移分析装置激光测量仪

日本syscom振动/位移分析装置激光测量仪 MEMSMap 510

兼容高达 240MHz 的高频
可实时确认,包括相位信息 可
从 1 nm 开始测量

  • 产品型号:MEMSMap 510
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-10-08
  • 访  问  量:171
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详细介绍

日本syscom振动/位移分析装置激光测量仪 MEMSMap 510 特点介绍


Memsmap 510使用CCD相机和显微镜镜头对微小物体(0.1毫米或以上)进行振动位移分析。

将激光照射到待测物体上,物体反射的激光与内部参考激光之间会产生干涉条纹。使用高精度显微镜镜头和 CCD 相机通过图像处理板将这些干涉条纹作为数字数据捕获到 PC 中。MEMSMAP可以使用两种不同的方法来测量被测物体的振动和变形:实时模式和相位调制方法。

在实时模式下,振动和变形以重叠的条纹图案(轮廓图)显示在物体图像上。通过扫频,可以轻松观察共振点处的振动模式。此外,通过使用相位调制方法,可以以动画或3D绘图的形式显示振动模式和位移模式,从而可以进行出色的定量和定性振动和位移分析。

下图显示了尺寸为 3 x 3 mm 的硅胶膜在气压作用下变形时的位移模式。通过将条纹图案实时重叠在测量对象上来显示位移量,可以轻松确认位移分析。

通过使用相位调制,测量灵敏度可提高至大约 1 nm。


日本syscom振动/位移分析装置激光测量仪 MEMSMap 510 规格参数


下面的动画是 14.3MHz 超声波组件和 37MHz 石英晶体振动模式 3D 绘图示例。

该 3D 图还包含实际振动状态的相位信息,通过将相位信息从 0 更改为 2π,您可以在动画中检查对象的振动状态。

当在振动测量中使用相位调制方法时,Micromap还控制被测物体的激励频率,可以测量约1纳米的振动幅度和高达数百兆赫兹的频率范围。




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